LCR测试仪
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模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量；提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度；1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量C测试仪3506-10品牌名称：日置（HIOKI）
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高速测量2ms；能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断；对应测试线，比较器功能/触发输出功能C测试仪3504-60品牌名称：日置（HIOKI）
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高速测量2ms；3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试；3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试C测试仪3504-50品牌名称：日置（HIOKI）
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高速测量2ms；对应测试线，比较器功能/触发输出功能；3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试C测试仪 3504-40品牌名称：日置（HIOKI）
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高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz)；高精度： ± 0.08%；内置比较器LCR测试仪3511-50品牌名称：日置（HIOKI）
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测量频率DC，4Hz~8MHz；测量时间：最快1ms；基本精度：±0.05% rdgLCR测试仪IM3536品牌名称：日置（HIOKI）
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基本精度±0.05％，测量范围广；内置比较器和BIN功能；2ms的快速测试时间LCR测试仪IM3533品牌名称：日置（HIOKI）
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基本精度±0.05％；内置比较器和BIN功能；2ms的快速测试时间LCR测试仪 IM3523品牌名称：日置（HIOKI）
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