减少生产测试时间

加快测量速度

通过引入CW光专用灵敏度模式[RAPID]，相较于以往机型，测量速度可提高多达20倍。这将缩短光谱测量所需的时间，提高生产效率。

与传统机型相比
参考值跨度为100nm，25001个采样点，平均值为1，噪声水平约为−60 dBm

生产线空间优化

AQ6361体积不到AQ6370E的一半，可以成对安装在标准机架上。这有助于降低复杂生产线和芯片测试仪所占用的体积，从而优化空间。

适用于各种光模块

根据测量应用，可以选择从0.03nm(高性能机型)到2nm的波长分辨率。此外，AQ6361还能提供高动态范围测量，具有73dB的出色杂散光抑制性能(高性能机型)。

ITLA的光谱